A pozitron-annihilációs spektroszkópia az elmúlt évtizedekben a "nukleáris szondás" anyagszerkezeti vizsgálati módszerek egyik széleskörűen alkalmazható eljárásává érett. Az annihiláció során keletkező -sugárzás regisztrálása méréstechnikailag rutinszerűen megoldható feladat, ugyanakkor a -kvantumok energia- és impulzusviszonyainak meghatározásából olyan, a tanulmányozott minta elektronszerkezetével és - közvetve - kristálystrukturájával kapcsolatos információ nyerhető, mely más módszerek alkalmazásával nem elérhető. A jellemző annihilációs paraméterek (élettartam, relativ intenzitás, a -kvantumok szög- és energiaeloszlása, a 2-annihiláció során keletkező 0.511 keV energiájú annihilációs csúcs Doppler-kiszélesedésének mértéke) jól kapcsolatba hozhatók meghatározott elektronállapotokból kiragadott elektronokkal kialakuló annihilációs csatornákkal, melyek létrejötte, versengése, kontrollált fiziko-kémiai behatásokra bekövetkező változásai lehetőséget biztosítanak a tanulmányozott minta bizonyos -elektronszerkezet-változások által is tükrözött - szerkezeti változásainak vizsgálatára. Alacsonyabb elektronsűrűségű környezetből végbemenő annihiláció hosszabb pozitron-élettartamok megjelenésében nyilvánul meg, s könnyen beláthatóan az elektronsűrűség növekedése az élettartamok rövidülését eredményezi.

A kondenzált rendszerekben tapasztalható 0.2 ns - 2 ns hosszúságú élettartam-értékek mellett mikropórusokat tartalmazó zeolitokban és igen kis szemcseméretű kristályokból álló mikrokristályokban a szokásos "csapdába esett", s a fenti élettartamokat mutató pozitronok állapotain kívül 20-140 ns élettartamú annihilációs csatornák is megnyílnak, melyek magyarázata az, hogy a mikroszemcsés kondenzált rendszerben a környezettel gyengén kölcsönható orthopozitrónium (o-Ps) tud kialakulni. Ezen kölcsönhatás tipusa (pl. mágneses quenching, konverzió, elektron-csere, stb.) és erőssége megállapítható egyrészt az élettartam-jellemzők módosulásából, másrészt abból a változásból, amely az annihiláció során keletkező -sugárzás energiaeloszlásában észlelhető: az o-Ps szétsugárzása 3-annihiláció, míg lényegében minden más pozitron-illetve Ps-állapot annihilációja 2-szétsugárzás útján megy végbe. Kimutatható, hogy a 3-annihiláció észlelésére megnövelt érzékenységű, általunk kidolgozott mérési módszer igen érzékeny az o-Ps -járulék meghatározására, ami lehetőséget nyújt a mikropórusos szerkezetekben a belső felületeken lejátszódó Ps-reakciók, így ezen felületek vizsgálatára.

Néhány jellemző mérési eredmény ismertetésével és értelmezésével képet adunk a módszer alkalmazhatóságáról és távlatairól is.